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Analysis of the injection layer of PTCDA in OLEDs using x-ray photoemission spectroscopy and atomic force microscopy
  • ISSN号：1674-1056
  • 期刊名称：《中国物理B：英文版》
  • 时间：0
  • 分类：O438[机械工程—光学工程;理学—光学;理学—物理] TN16[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构：[1]School of Physical Science and Technology, Lanzhou University, Lanzhou 730000, China, [2]School of Physics, Hunan University of Science and Technology, Xiangtan 411201, China, [3]School of Basic Courses, Beijing Institute of Machinery, Beijing 100085, China
  • 相关基金：Project supported by the National Natural Science Foundation of China （Grant No 60276026） and the Natural Science Foundation of Gansu Province, China （Grant No ZS031-A25-012-G）.
作者： 欧谷平[1,2], 宋珍[3], 吴有余[1], 陈小强[1], 张福甲[1]
关键词： 原子力显微术, x射线光电效应光谱学, PTCDA/ITO, 注射层, atomic force microscopy, x-ray photoemission spectroscopy, PTCDA/ITO
中文摘要：

E-mail： prof- zhangfj@sina.com

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期刊信息
  • 《中国物理B：英文版》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会和中国科学院物理研究所
  • 主编：欧阳钟灿
  • 地址：北京 中关村 中国科学院物理研究所内
  • 邮编：100080
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  • 电话：010-82649026 82649519
  • 国际标准刊号：ISSN：1674-1056
  • 国内统一刊号：ISSN：11-5639/O4
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  • 国内外数据库收录:
  • 被引量:406