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Micro-Raman spectroscopy stress measurement method for porous silicon film
  • ISSN号：0143-8166
  • 期刊名称：Optics and Lasers in Engineering
  • 时间：0
  • 页码：1119-1125
  • 语言：英文
  • 相关项目：低维纳米结构弹性性能的尺寸效应研究
作者： Kang, Yilan|Qiu, Wei|Guo, Jiangang|Tan, Haoyun|Li, Qiu|
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