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基于电流信息的CMOS SRAM 存储单元故障测试
  • 期刊名称：传感器与微系统, 2008, 27(6):100-103
  • 时间：0
  • 相关项目：模拟型进化硬件及应用研究
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模拟型进化硬件及应用研究
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