Thermal stability of silicon nanowires: atomistic simulation study
- ISSN号:1674-1056
- 期刊名称:《中国物理B:英文版》
- 时间:0
- 分类:TN304.12[电子电信—物理电子学] TB383[一般工业技术—材料科学与工程]
- 作者机构:Department of Physics, Xiangtan University, Xiangtan 411105, China
- 相关基金:Project supported by the National Natural Science Foundation of China (Grant No 10774127).
关键词:
硅纳米线, 热稳定性, 原子模拟, 熔化温度, 表面重建, 分子动力学, 结构演化, 仿真结果, molecular dynamics, silicon nanowires, thermal stability, melting points
中文摘要:
wlliu1981@gmail.com