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Effects of Annealing Temperature and Gas on Pentacene OTFTs With HfLaO as Gate Dielectric
  • ISSN号：1530-4388
  • 期刊名称：IEEE Transactions on Device and Materials Reliabil
  • 时间：2012.3.3
  • 页码：107-112
  • 相关项目：聚合物薄膜晶体管稳定性及其机理研究
作者： Deng, L. F.|Liu, Y. R.|Choi, H. W.|Xu, J. P.|Che, C. M.|Lai, P. T.|
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