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Bias-Stress-Induced Instability of Polymer Thin-Film Transistor Based on Poly(3-Hexylthiophene)
  • ISSN号：1530-4388
  • 期刊名称：IEEE Transactions on Device and Materials Reliabil
  • 时间：2012.3.3
  • 页码：58-62
  • 相关项目：聚合物薄膜晶体管稳定性及其机理研究
作者： Liu, Y. R.|Liao, R.|Lai, P. T.|Yao, R. H.|
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