位置：成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
Line-profile analysis of excitation spectroscopy in the even 4p5(2P1/2)nl′ [K′]J (l&prim
  • ISSN号：1674-7291
  • 期刊名称：Science China Chemistry
  • 时间：2013.8.8
  • 页码：1623-1632
  • 相关项目：电磁场双重诱导下纳米多孔超低k薄膜的制备与物性研究
作者： LI Chun Yan|WANG Ting Ting|
同期刊论文项目
电磁场双重诱导下纳米多孔超低k薄膜的制备与物性研究
期刊论文 14
同项目期刊论文
磁场作用下氧化铝模板孔洞平行于衬底生长的方法
Effect of catalyst HF concentration on the electrical characteristics of ultra low-k materials
FLOW IMPROVEMENT BY PROVIDING PARTIAL TRAFFIC INFORMATION FOR ROAD USERS
Shocks induced by junctions in totally asymmetric simple exclusion processes under periodic boundary
H~+离子浓度对WO_3粉体化学键及晶体微观结构的影响
Line-pro¯le Analysis of Excitation Spectroscopy in Even 5p5(2P1=2)nl0 [K0]J (l0=1, 3) Autoioniz
高压静电场诱导下介孔WO3粉体的制备及表征
表面处理对阳极氧化铝模板光发射性质的影响
Resonance-Enhanced Photon Excitation Spectroscopy of the Even-Parity 3p(5)(P-2(1/2))nl ' [K ']J (l '
Kr 原子偶宇称 4p5(2P1/2)nl′[K′]J (l′ = 1, 3)自电离态共振增强激发光谱线形研究
Ar原子偶字称 3p^5（2P1/2）nl′ [K′]J （l′=1, 3） 自电离Rydberg态共振增强激发光谱
高压静电场诱导下介孔 WO 3粉体的制备及表征
H＋离子浓度对WO3粉体化学键及晶体微观结构的影响