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Retention loss in the ferroelectric (SrBi2Ta2O9)-insulator (HfO2)-silicon structure studied by piezo
  • ISSN号:0295-5075
  • 期刊名称:EPL
  • 时间:2012.4.4
  • 页码:27011-
  • 相关项目:铁电场效应晶体管保持性能损失过程中铁电畴变的实时观测与相场模拟
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