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Fast Estimation of Defect Profiles from the Magnetic Flux Leakage Signal Based on a Multi-Power Affi
  • ISSN号：1424-8220
  • 期刊名称：Sensors
  • 时间：2014.9
  • 页码：16454-16466
  • 相关项目：逃逸边界粒子群及其在漏磁缺陷重构中的应用研究
作者： Han, Wenhua|Shen, Xiaohui|Xu, Jun|Wang, Ping|Tian, Guiyun|Wu, Zhengyang|
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