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Eight-logic memory cell based on multiferroic junctions
  • 期刊名称:J. Phys. D: Appl. Phys.
  • 时间:0
  • 页码:610-617
  • 语言:英文
  • 相关项目:无铅铁电薄膜在Van Allen带辐射下的失效机制
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