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射频微波功放器件非线性记忆效应测量与行为建模技术的新进展
  • ISSN号:1000-7105
  • 期刊名称:电子测量与仪器学报
  • 时间:2014
  • 页码:113-122
  • 分类:TN98[电子电信—信息与通信工程]
  • 作者机构:[1]哈尔滨工业大学电子与信息工程学院信息工程系 哈尔滨150001
  • 相关基金:国家自然科学基金(61171062)、教育部博士点基金(20112302110033)资助项目
  • 相关项目:动态X参数模型理论及基于协方差矩阵分析NVNA测量不确定度传播规律研究
作者: 林茂六|
中文摘要:

将综述具有记忆效应的射频微波功放器件非线性表征、测量和行为建模的最新进展.首先通过比较连续波和脉冲射频大信号测量实例,揭示自热与电器记忆效应对射频微波功放器件性能的影响.然后介绍如何将X参数行为模型扩展到考虑了射频微波器件强非线性及长期记忆效应的动态X参数行为模型理论、实验方案和模型记忆核辨识实例.最后展望了非线性长期记忆效应测量与行为建模技术的未来发展研究方向.

英文摘要:

In the paper, we will overview new progress on nonlinear measurement and behavioral modeling for RF Power amplifiers with memory effects. First the impact of thermal and electrical memory effects upon the perform ance of a RF power amplifiers will be revealed by comparing continuous wave and pulsed RF large-signal measure ments. Next an extension of the X-parameters behavioral model to account for hard nonlinear and long-term memory effects of RF and microwave components which is called dynamic X-parameters behavioral model will be presented. Here nonlinear behavioral model's mathematical derivations, experiment scheme and memory extraction methods are introduced. Finally, the future nonlinear measurement and behavior modeling development is also forecasted.

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期刊信息
  • 《电子测量与仪器学报》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学技术协会
  • 主办单位:中国电子学会
  • 主编:彭喜元
  • 地址:北京市东城区北河沿大街79号2层
  • 邮编:100009
  • 邮箱:mi1985@emijournal.com
  • 电话:010-64044400
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-7105
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2488/TN
  • 邮发代号:80-403
  • 获奖情况:
  • 国内外数据库收录:
  • 中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2014版)
  • 被引量:14380