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恒栅流负电晕充电的Si基SiO2驻极体的电荷稳定性
  • ISSN号：1001-9731
  • 期刊名称：《功能材料》
  • 分类：TM201.44[电气工程—电工理论与新技术;一般工业技术—材料科学与工程]
  • 作者机构：[1]同济大学波耳固体物理研究所,上海200092, [2]复旦大学电子工程系,上海200433
  • 相关基金：国家自然科学基金!资助项目（59682003）
作者： 宋聚平[1], 沈绍群[2]
关键词： 恒栅流电晕充电, 二氧化硅, 驻极体, 电荷稳定性
中文摘要：

本文讨论了在不同充电参数条件下的恒恒流电晕充电的Ｓｉ基ＳｉＯ２薄膜驻极体的空间电荷储存稳定性，并和栅控恒压电晕充电的结果进行了比较。利用电容－电压（Ｃ－Ｖ）分析技术确定了空间电荷重心的漂移，并利用等温表面电位衰减测量，开路热刺激放电实验及Ｃ－Ｖ分析技术讨论了Ｓｉ基ＳｉＯ２薄膜驻极体的空间电荷储存和输动特性。

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期刊信息
  • 《功能材料》
  • 北大核心期刊（2011版）
  • 主管单位:重庆材料研究院
  • 主办单位:重庆材料研究院
  • 主编：黄伯云
  • 地址：重庆北碚区蔡家工业园嘉德大道8号
  • 邮编：400707
  • 邮箱：gnclwb@126.com
  • 电话：023-68264739
  • 国际标准刊号：ISSN：1001-9731
  • 国内统一刊号：ISSN：50-1099/TH
  • 邮发代号:78-6
  • 获奖情况:
  • 2008、2011年连续获中国精品科技期刊,2010获重庆市双十佳期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘（网络版）,荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊（2004版）,中国北大核心期刊（2008版）,中国北大核心期刊（2011版）,中国北大核心期刊（2014版）,英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊（2000版）
  • 被引量:30166