中文摘要：

通过综述国内外专利计量学的研究进展，从指标研究和应用研究两方面简要阐述了专利计量学的发展态势。在综述现有专利计量指标基础上，提出借鉴新兴的h指数研究发展新型专利计量指标是一个值得努力的方向；在概括不同角度的应用研究基础上，提出通过专利计量指标建立竞争力测度进而实现竞争情报分析的新思路。

英文摘要：

Two sub-fields in patentometrics are reviewed as indicator and application studies. In indicator studies, the new type patentometric indicator based on h-index is a valuable direction. In application studies, the competitive measure for competitive information analysis via the patentometric indicators becomes a new way.