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Ta2O5-TiO2调制结构和介电性能相关性
  • ISSN号:1000-6281
  • 期刊名称:《电子显微学报》
  • 时间:0
  • 分类:O766.1[理学—晶体学] O766.4[理学—晶体学]
  • 作者机构:[1]北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100022
  • 相关基金:国家973项目(No.2002CB613500); 教育部新世纪人才计划支持; 北京市人才强教计划支持.致谢:感谢合作者季凌飞和蒋亦坚.
中文摘要:

本文略述了近来用高分辨电子显微术及其模拟技术,解析Ta2O5和(Ta2O5)1-x(TiO2)x的晶体结构的进展,并揭示了(Ta2O5)1-x(TiO2)x固溶体中由于Ti离子有序占据八面体位置所形成的调制结构和介电性能之间的关联。

英文摘要:

 This article introduced the recent progresses in the crystalline structural determination of Ta2O5 and (Ta2O5)1-x(TiO2)x using TEM techniques,including HREM and the corresponding simulations.The crystalline structural details of Ta2O5 and(Ta2O5)1-x(TiO2)x suggest the correlations between the ordered structure and the high dielectric constant in(Ta2O5)0.92(TiO2)0.08 system.

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期刊信息
  • 《电子显微学报》
  • 中国科技核心期刊
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  • 主办单位:中国物理学会
  • 主编:张 泽
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  • 国际标准刊号:ISSN:1000-6281
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2295/TN
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  • 曾获《中国科技论文统计源期刊(中国科技核心期刊)》,《中国科学引文数据库(核心库)》来源期刊,中国自然科学核心期刊(无线电电子学、电信技术类...
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),英国科学文摘数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6569