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Impact of rapid thermal annealing on structural and electrical properties of ZnO thin films grown at
  • ISSN号:0042-207X
  • 期刊名称:Vacuum
  • 时间:2014.5
  • 页码:1-4
  • 相关项目:高K栅介质/III-V族半导体界面的原位调控及性能研究
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