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氢气气氛中后续退火处理对ZnO:Al薄膜光电性能的影响
  • 期刊名称:中国科技大学学报
  • 时间:0
  • 页码:699-705
  • 语言:中文
  • 分类:O472[理学—半导体物理;理学—物理] O484[理学—固体物理;理学—物理]
  • 作者机构:[1]中国科学技术大学合肥微尺度物质科学国家实验室,安徽合肥230026
  • 相关基金:国家自然科学基金(50772109)资助.感谢实验室的王海千教授、日本Shincron公司的姜友松博士、宋亦周博士对本文的指导和建设性建议.
  • 相关项目:纳米尺度多层膜的界面对固体氧化物燃料电池电解质材料的离子电导增强效应的研究
中文摘要:

利用自由基辅助磁控溅射法在载玻片衬底上制备了透明导电ZnO:Al薄膜(简称AZO薄膜).研究了氢气气氛中后续退火处理对Al掺杂效率以及AZO薄膜性能的影响.研究结果表明,退火处理提高Al的掺杂效率、降低中性杂质浓度,从而提高了AZO薄膜的导电性能.AZO薄膜550℃下在H2气氛中退火处理后,其电阻率为6.5×10-4Ω·cm,550nm波长的透射率为85.7%,载流子浓度为3.3×1020cm^-3,迁移率为29.7cm^2·V^-1·s^-1.

英文摘要:

Transparent conductive ZnO:Al(AZO)films were deposited on glass substrates by radical assisted magnetron sputtering.The effects of post-annealing in hydrogen atmosphere on the Al doping efficiency and properties of AZO films were investigated.It was found that post-annealing treatment improves the Al doping efficiency and reduces the concentration of neutral impurity scattering centers.These two factors together improve the conductivity of AZO films.The resistivity and the transmittance at 550nm of the AZO films annealed in H2at 550℃ were 6.5×10-4Ω·cm and 85.7%,respectively,with carrier concentration being 3.3×1020 cm^-3 and mobility of 29.7cm^2·V-1·s^-1.

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