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AlN薄膜的研究进展
  • ISSN号:1005-023X
  • 期刊名称:《材料导报:纳米与新材料专辑》
  • 时间:0
  • 分类:TN304.23[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]浙江工业大学机械制造与自动化教育部重点实验室,杭州310014
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(50771093)
中文摘要:

AlN是一种性能优异的宽带隙Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体材料,在电、光和机械领域展现了极大的应用前景。结合国内外研究的热点问题和各科研团体最新的研究成果,从AlN的性质、AlN薄膜的制备方法、国内外AlN薄膜的最新研究进展及AlN薄膜的应用等4个方向进行了详细阐述。

英文摘要:

AlN is a group-Ⅲ-Ⅴ-nitride semiconductor materials with excellent properties and wide band-gap, it shows great application prospect especially in the electrical, optical and mechanical fields. In this article, with the hot issue researched at home and abroad, and the latest results which are discussed by the research groups, the AlN nature, AlN thin film preparation, the latest research progress at home and abroad and the application of AlN thin films are explained in detail.

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期刊信息
  • 《材料导报:纳米与新材料专辑》
  • 主管单位:重庆西南信息有限公司(原科技部西南信息中心)
  • 主办单位:重庆西南信息有限公司(原科技部西南信息中心)
  • 主编:
  • 地址:重庆市渝北区洪湖西路18号
  • 邮编:401121
  • 邮箱:matreved@163.com
  • 电话:023-67398525
  • 国际标准刊号:ISSN:1005-023X
  • 国内统一刊号:ISSN:50-1078/TB
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 国内外数据库收录:
  • 被引量:3397