性能优异的高质量p 型透明氧化物半导体(TOS)外延薄膜的制备是当前透明电子学发展中亟待解决的关键问题之一。CuAlO2 由于具有比较优异的光电综合性质而成为p 型TOS 的重要候选材料。本项目使用聚合物辅助沉积和磁控溅射技术分别在蓝宝石、单晶石英等单晶衬底上生长出高质量的CuAlO2 薄膜,通过对制备工艺的详细深入研究,元素比例的调控,获得了透明和导电性能较好的本征薄膜,并发现氧在CuAlO2薄膜结构和光电性能方面扮演着非常重要的角色。然后对本征薄膜样品进行了金属离子替位p 型掺杂,包括Mg替换Al位,Ni替换Cu位,比较得出Mg掺杂比Ni效果更好,使CuAlO2本征薄膜的电阻率下降了3个数量级,而Ni掺杂能明显改善薄膜的光敏特性。最后通过薄膜生长阶段和后期可控氮化处理,成功实现了CuAlO2薄膜的N 元素掺杂,薄膜电阻率进一步降低,获得具有良好透明和导电特性的高质量掺杂薄膜样品。围绕该项目研究内容,我们已发表SCI论文16 篇、申请国家专利3项、参加国际会议1次、培养2名博士、多名硕士和本科生。
英文主题词Transparent conductive oxide; CuAlO2 films; p-type doping; optical and electrical properties