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基于环形折叠方法的集成电路测试关键技术研究
  • 项目名称：基于环形折叠方法的集成电路测试关键技术研究
  • 项目类别：应急管理项目
  • 批准号：61540011
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：吴琼
  • 依托单位：安庆师范学院
  • 批准年度：2015
成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 4
  • 0
  • 0
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期刊论文
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