本项目建立了一套用掠入射X射线衍射表征共轭聚合物薄膜微结构的测试平台以及相关测试和数据处理方法,并用这套方法研究了聚辛基芴(PFO)薄膜微结构与制备方法以及器件性能间的关系。结果发现随着熏蒸时间的加长β相PFO薄膜结晶度增加,生成更多的空位缺陷使得发光性能下降;随着退火温度的提高α相PFO薄膜的结晶度也增加,产生类似效应。但是与非晶薄膜相比结晶性薄膜的发光性能要大大提高,因此控制结晶度是提高器件性能的关键。此外我们还发现溶液的状态对相应薄膜的发光性能有很大影响,残留凝胶会导致异常的β相发光并降低发光效率,陈化凝胶会提高相应的发光性能。总之本项目成功的完成了预期目标,将新的表征手段成功的引入到了光电高分子材料的研究中并取得了一些结果,为进一步的相关研究提供了新的方法与思路。
英文主题词grazing incident X-ray diffraction; polyfluorene; thin film microstructure