位置:立项数据库 > 立项详情页
利用掠入射X射线衍射技术表征聚芴薄膜形态结构的方法学研究及其应用
  • 项目名称:利用掠入射X射线衍射技术表征聚芴薄膜形态结构的方法学研究及其应用
  • 项目类别:青年科学基金项目
  • 批准号:50803065
  • 申请代码:E031402
  • 项目来源:国家自然科学基金
  • 研究期限:2009-01-01-2011-12-31
  • 项目负责人:张吉东
  • 负责人职称:副研究员
  • 依托单位:中国科学院长春应用化学研究所
  • 批准年度:2008
中文摘要:

本项目建立了一套用掠入射X射线衍射表征共轭聚合物薄膜微结构的测试平台以及相关测试和数据处理方法,并用这套方法研究了聚辛基芴(PFO)薄膜微结构与制备方法以及器件性能间的关系。结果发现随着熏蒸时间的加长β相PFO薄膜结晶度增加,生成更多的空位缺陷使得发光性能下降;随着退火温度的提高α相PFO薄膜的结晶度也增加,产生类似效应。但是与非晶薄膜相比结晶性薄膜的发光性能要大大提高,因此控制结晶度是提高器件性能的关键。此外我们还发现溶液的状态对相应薄膜的发光性能有很大影响,残留凝胶会导致异常的β相发光并降低发光效率,陈化凝胶会提高相应的发光性能。总之本项目成功的完成了预期目标,将新的表征手段成功的引入到了光电高分子材料的研究中并取得了一些结果,为进一步的相关研究提供了新的方法与思路。

结论摘要:

英文主题词grazing incident X-ray diffraction; polyfluorene; thin film microstructure


成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 8
  • 7
  • 0
  • 0
  • 0
相关项目
期刊论文 29 著作 2
张吉东的项目