中文摘要：

表面结构与性质是半导体物理性质的重要组成部分，与很多实际应用密切相关，也是半导体物理研究的重要领域。ZnO是一种具有广泛应用前景的半导体材料，纤锌矿结构两个极性面（0001）和（000-1）是最常见的表面，但对其稳定机理至今没有达成共识，实验上也存在一些传统理论不能解释的现象，成为了ZnO研究领域的一个重要与热点问题。本项目将对ZnO极性面的稳定机理进行系统研究，特别关注极化效应对极性面结构的影响，以及内部杂质和缺陷通过极化场对极性面结构的间接影响。传统理论对这些因素考虑不足，但我们认为对ZnO将特别重要。项目的完成将充分揭示ZnO极性面的稳定机理，对实验结果作出更加合理的解释，为其它类似材料提供借鉴。还将对半导体极性面理论的进一步完善具有重要学术价值。