在过去的3年中(2008-2010),项目组紧紧围绕项目计划任务书,发展了第一性原理研究晶体表面结构和薄膜应变微结构的方法,以及X射线掠入射散射研究表面结构重构方法,主要开展了SrTiO3材料及外延薄膜的生长、表面结构、重构、应变及缺陷结构的理论和实验研究,获取不同条件下生长的SrTiO3薄膜的表面结构,及不同结构对类钙钛矿薄膜如高温超导铜氧化物或庞磁电阻锰氧化物薄膜生长的影响;获得不同状态下SrTiO3薄膜的应变与应变的分布,对相变及铁电性过程提供了物理解释;测量不同温度场和电场下SrTiO3薄膜的结构相变和应变,获得应变与相变的变化特征。同时将研究结果扩展到类钙钛矿(与SrTiO3相关)、具有特殊磁性和输运特性的异质机构体系材料的研究中,如锰氧化物和铜氧化物等,对半导体材料如CdTe和InN的表面吸附和微结构也开展了卓有成效的工作。课题组发表与项目相关SCI研究论文29篇,培养博士研究生8名,硕士研究生4名,并在南京大学成功承办国际磁暑期学校,获得好评;承办全国薄膜X射线结构分析讲习班,并受邀在全国同步辐射学术会议上做邀请报告。
英文主题词SrTiO3 thin film; Surface structure; Strain; Strain distribution in depth of the film; Phase transitions.