本项目拟用等离子体浸没式离子注入(PIII)和等离子体引发表面接枝方法,分别对有机电致发光器件(OLED)的电极/有机界面和有机/有机界面进行界面改性研究,通过优化等离子体气氛对PIII离子注入选择性和等离子体引发表面接枝基团选择性的控制,实现电极/有机界面能级结构调制,以及有机/有机界面化学键交联,消除界面处电荷注入和电荷传导势垒,增强界面粘合力和密封性,解决白光OLED光源电荷注入效率和传导率低、发光强度和效率低、寿命短等关键问题,阐明PIII离子注入改性电极/有机界面,实现界面能级结构调制,以及等离子体引发表面接枝改性有机/有机界面,实现界面化学键交联的微观机理;为OLED光源实用化和产业化奠定实验和理论基础,并提供OLED光源综合性能优化的新思路、新技术和理论依据。
OLED;PIII;plasma;surface modification;current injection
用等离子体浸没式离子注入(PIII)对有机电致发光器件(OLED)的ITO透明电极表面改性研究,通过优化等离子体气氛对PIII离子注入选择性的控制,提高ITO表面功函数,并改善其表面功函数的稳定性,ITO表面功函数提高幅度高达1.1eV,经过较长时间衰退后,仍然能保持0.7eV以上的增幅。大幅降低了界面处电荷注入势垒和OLED器件驱动电压,对于白光OLED光源电荷注入效率低、发光强度和效率低、寿命短等关键问题的解决提供了可产业化的技术路线和技术方案。并从原理上揭示了通过等离子体表面修饰技术实现ITO表面功函数提升和衰退的机制,为OLED光源实用化和产业化奠定实验和理论基础。取得的主要成果 1、使用PIII技术对商用ITO薄膜进行了表面处理,分别研究了工作气体种类、偏压大小、处理时间和脉冲宽度对ITO表面性能的影响,获得了最优化实验参数。结果表明氧/氯PIII技术能在不明显影响ITO薄膜的结晶取向、表面电阻、透过率和表面形貌的前提下,有效地清除其表面污染,增加氧含量,并大幅提高ITO的表面功函数,同时实验也证明了氧PIII对ITO进行表面处理是要比氧感应耦合等离子体(ICP)更为有效。 2、利用各次实验得到的优化参数对ITO进行了表面处理,实验结果发现氧/氯PIII处理后ITO的功函数能在原来的基础上(仅做超声预处理)提高1.1~1.2 eV;然而,由氧ICP处理后的ITO功函数只能在原来基础上增加0.4~0.5 eV。因此,本项目得出结论使用氧/氯PIII方法对ITO进行表面处理,其功函数能在氧等离子体处理的基础上进一步增加,使得ITO的功函数可达到与OLED中空穴传输材料的HOMO能级相匹配的地步。 3、提出了一种表面氧化处理ITO后引起功函数升高的理论解释,即ITO通过吸附处理氛围中的氧并占据其体系中的氧空位使其浓度降低,从而降低了ITO中的载流子浓度,导致费米能级降低,从而功函数增加。这种解释对实验发现的氧PIII更有效地提高ITO表面功函数能进行合理的解释。同时,为了验证这种解释的可靠性,进行了一次额外实验,通过选择具体优化后的PIII参数对ITO进行处理,发现实验结果和提出的理论解释符合得很好。 4、氧/氯PIII处理ITO样品,稳定后的功函数增量为0.3eV和0.7eV。 5、发表SCI论文8篇,申请专利2项;培养博士1名、硕士2名