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第四届国际测试技术研讨会
  • 项目名称：第四届国际测试技术研讨会
  • 项目类别：国际(地区)合作与交流项目
  • 批准号：50115139
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：张文栋
  • 依托单位：中北大学
  • 批准年度：2001
张文栋的项目
基于VLSI的自适应智能三轴加速度传感器研究
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纳机电微声传感器研究
纳机电微声传感器研究
期刊论文 47 会议论文 1
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期刊论文 9
纳机电微声传感器研究
芯片级高Q值平面环形微腔的制造及非线性光学特性研究
第六届国际测试技术研讨会
第六届微机械高层会议
芯片级高Q值平面环形微腔的制造及非线性光学特性研究
期刊论文 19 会议论文 18 专利 6
传感器技术与测试仪器
期刊论文 2 著作 1
第七届国际纳微米测量技术和智能仪器学术交流会（2005）