中文摘要：

应用聚焦电子束的方法，在透射电子显微镜中制作出具有各种微观结构(如T, X,Y,Multi-walled/Single walled等形状)的单分子碳纳米管节(junction)。直接在电镜下测定该节的微观结构和标记其在铜网上的位置。用镀膜技术在所标记的碳纳米管节的两端蒸镀金的电极，测量I-V曲线研究该节电子输运性质。碳纳米管节的电学输运性质，是碳纳米管构成纳米器件的关键问题。在本项目的研究中，可以直接测量研究单分子碳纳米管节的电子输运性质，研究节的微观结构与电子输运之间的关系。还可以将所测量的单分子的节移至不用的环境中进行测量，例如变温、磁场的环境，研究节的电学输运性质与环境之间的依赖关系，这在碳纳米管的基础研究和应用方面都是非常重要的。而且该研究路线和实验方法完全可以推广到研究其它一维纳米线的电学输运等领域，对于一维纳米材料的电学性质的研究将具有十分重要的意义。