密码芯片安全性测试原理和方法-东篱科研大数据发现系统（DRDS）

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密码芯片安全性测试原理和方法

项目名称：密码芯片安全性测试原理和方法
项目类别：面上项目
批准号：60373109
申请代码：F020702
项目来源：国家自然科学基金
研究期限：2004-01-01-2004-12-01

项目负责人：范明钰
负责人职称：教授
依托单位：电子科技大学
批准年度：2003

中文摘要：

本项研究将芯片的安全性测试分为一般性安全测试和特殊条件安全测试两个部分。研究表明，密码芯片的安全测试与芯片的其它功能测试有很大的不同，前者主要体现在信息的泄漏和获取上。其中截至目前，最为有效的一般安全性测试方法为简单能量分析(Simple Power Analysis)法，而特殊条件安全测试方法主要采用差分能量分析(Differential Power Analysis)法。截至目前，仅见有国外的相关研究，国内未见研究报道，因此本项研究在国内属于领先。本项研究的主要成果包括 1.提出了密码芯片的测试条件假定和测试结果分类 2.探索了一种在未知密码芯片所实现的算法及相关细节的前提下，测试其一般安全性能的理论和方法； 3.提出了根据密码芯片所实现的密码算法及其能耗泄露，进行密钥测试的理论和方法； 4.根据测试过程中发现的芯片的安全性弱点，提出相应的安全性防护方法。 5.受本项基金资助，已发表学术论文10篇，完成国际学术交流一次，还将培养硕博士研究生10名。此外正在准备申报国家专利。

中文主题词：密码芯片；安全性测试；能量分析；安全性防护

结论摘要：

英文主题词Crypto Chip; Security Test; Power Analysis; Security Protection

成果综合统计