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Polarity determination for GaN thin films by electronenergy-loss spectroscopy
  • 所属机构名称：中国科学院物理研究所
  • 成果类型：著作
  • 出版社：Applied Physics Letters,v81, p1990
  • 语言：英文
  • 相关项目：碳化硅缓冲层上生长氮花稼的电子显微学研究
作者： X. Kong|G.Q.Hu|X. F. Duan|Y. Lu|X. L. Liu|
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