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Test response data volume and wire length reductions for extended compatibilities scan tree construc
  • 所属机构名称：湖南大学
  • 会议名称：4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications
  • 成果类型：会议
  • 会场：Hong Kong
  • 相关项目：低功耗限制下VLSI电路的低费用确定性测试研究
作者： Cheng, Yong-sheng|Kuang, Ji-shun|You, Zhi-qiang|
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