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由被测电路自己产生测试向量的自动测试生成
  • 所属机构名称：湖南大学
  • 会议名称：第五届中国测试学术会议
  • 成果类型：会议
  • 会场：中国江苏苏州
  • 相关项目：低功耗限制下VLSI电路的低费用确定性测试研究
作者： 邝继顺|尤志强|刘钦|
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低功耗限制下VLSI电路的低费用确定性测试研究
期刊论文 17 会议论文 5
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