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硅通孔中的电致应力
  • 所属机构名称:北京航空航天大学
  • 会议名称:The 14th International Conference on Electronic Packaging Technology
  • 时间:2013.8.10
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:微尺度焊点在电迁移作用下变形行为的实验研究
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