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检测老化的自适应可配置时序单元
  • 所属机构名称：合肥工业大学
  • 会议名称：第十七届全国半导体集成电路、硅材料学术会议
  • 时间：2011.11.1
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：容忍软错误的SoC芯片可靠性设计关键技术研究
作者： 秦晨飞|梁华国|刘彦斌|黄正峰|杨叔寅|
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容忍软错误的SoC芯片可靠性设计关键技术研究
期刊论文 41 会议论文 6 获奖 1
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