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低功耗的抗辐射加固锁存器设计
  • 所属机构名称：合肥工业大学
  • 会议名称：the 23rd Asian Test Symposium (ATS 2014)
  • 时间：2014.11.16
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：容忍软错误的SoC芯片可靠性设计关键技术研究
作者： 梁华国|王志|黄正峰|闫爱斌|
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