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抗辐射加固的乘法器电路设计
  • 所属机构名称：合肥工业大学
  • 会议名称：第二十一届全国测控、计量、仪器仪表学术会议暨2011中国仪器仪表与测控技术大会
  • 时间：2011.10.1
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：容忍软错误的SoC芯片可靠性设计关键技术研究
作者： 秦晨飞|黄正峰|刘彦斌|梁华国|汪健|杨叔寅|
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容忍软错误的SoC芯片可靠性设计关键技术研究
期刊论文 41 会议论文 6 获奖 1
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