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Layout decomposition co-optimization for hybrid e-beam and multiple patterning lithography
所属机构名称:复旦大学
会议名称:ACM/IEEE ASP-DAC, 2015
时间:2015.1.19
成果类型:会议
相关项目:纳米尺度超大规模集成电路分析和优化设计研究
作者:
Y. F. Yang, W. S. Luk, H. Zhou, C. H. Yan,|X. Zeng|
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