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基于虚拟JTAG测试方法的研究
  • ISSN号:1006-2394
  • 期刊名称:《仪表技术》
  • 时间:0
  • 分类:TP39[自动化与计算机技术—计算机应用技术;自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
  • 作者机构:[1]上海大学微电子研究中心,上海200072
  • 相关基金:国家自然科学基金项目(60773081);上海市科学技术委员会科研计划项目(06DZ22013)
中文摘要:

随着FPGA复杂度的提高,验证过程成为FPGA设计周期中的关键部分。文章先简介了最新的虚拟JTAG测试方法,然后对用户控制逻辑和Tcl的应用等方面进行了分析,并结合具体实例详细说明了虚拟JTAG的使用方式。实验结果表明运用此种测试方法,可以灵活进行系统级片内调试,节约测试成本,加快设计验证进程。

英文摘要:

With the increase of FPGA's complexity, the certification process has become a key part of FPGA design cycle. The newest virtual JTAG test method is introduced. And then, the user control logic and the application of Tel are analyzed. In conjunction with detailed description of the specific example, it shows how to use the virtual JTAG. The experimental results show that the debug on-chip in system-level can be realized flexibly. It can save the cost and accelerate design verification process by using such testing method.

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期刊信息
  • 《仪表技术》
  • 主管单位:上海科学院
  • 主办单位:上海市仪器仪表学会 中国仪器仪表学会 汉字信息处理系统研究会 上海仪器仪表研究所
  • 主编:滕华强
  • 地址:上海市龙江路214号
  • 邮编:200082
  • 邮箱:yibiaojishu@163.com
  • 电话:021-65897963
  • 国际标准刊号:ISSN:1006-2394
  • 国内统一刊号:ISSN:31-1266/TH
  • 邮发代号:4-351
  • 获奖情况:
  • 1997获优秀期刊三等奖,仪表局科技情报成果一等奖
  • 国内外数据库收录:
  • 被引量:5451