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X-ray Reciprocal Space Mapping and Synchrotron Radiation Topography of Strained Si/Si1-xGex on Bonde
期刊名称:ECS Transactions
时间:0
页码:485-490
语言:中文
相关项目:SOI衬底上SiGe异质结构的应变弛豫机制
作者:
马通达|
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专利 1
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