对龌封后的20txm细径铜丝超声键合焊点进行了高温存储可靠性研究.采用SEM观察了老化后键合焊点界面微观组织及金属间化合物,采用EDS对反应物的成分进行了分析.结果表明,200oC老化9天或250oC老化9h,键合焊点界面生成了大量Cu-A1金属问化合物,并出现可见的微裂纹和Kirkendall孔洞;250oC老化16h后,环氧塑封料中微量的sb元素与铜球焊点发生反应,生成以cu,Sb为主的反应物;当老化时间超过49h,铜丝破碎,铜键合焊点产生严重腐蚀.250℃老化超过24h或300oC老化超过4h会发生银迁移现象.