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Electrothermomechanical analysis of partially insulated field-effect transistors using hybrid nonlin
  • ISSN号:0026-2714
  • 期刊名称:Microelectronics Reliability
  • 时间:0
  • 页码:895-903
  • 语言:英文
  • 相关项目:片上系统的互连问题与高端IP核研究
作者: W. Y. Yin|M. Yi|
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