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Transient analysis of CMOS-gate-driven interconnects based on FDTD
  • 期刊名称:IEEE Trans. Compuer-Aided Design of Integrated Cir
  • 时间:0
  • 页码:574-583
  • 语言:英文
  • 相关项目:片上系统的互连问题与高端IP核研究
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