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SoC测试中低成本、低功耗的芯核
  • 期刊名称：“SoC测试中低成本、低功耗的芯核包装方法”,《计算机辅助设计与图形学学报》,第18卷, 第9期,
  • 时间：0
  • 相关项目：多芯核共享的测试响应数据压缩方法研究
作者： 王伟, 韩银和, 胡瑜, 李晓维, 张
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