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快速热退火对纳米晶粒SnO2薄膜性质的影响
  • ISSN号:1001-9014
  • 期刊名称:《红外与毫米波学报》
  • 时间:0
  • 分类:TN304.23[电子电信—物理电子学] TN304.21[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]华东师范大学信息学院,上海200241, [2]上海大学分析测试中心,上海200444
  • 相关基金:上海市教委科研基金(2006AZ113);上海市教委优秀青年教师科研专项基金和国家自然科学基金(60677022)和上海重点学科建设项目(B411)资助项目
中文摘要:

以SnCl2·2H2O及无水乙醇为原料,利用溶胶-凝胶法在快速热退火下制备了SnO2纳米薄膜,研究了快速热退火(RTA)对SnO2薄膜性质的影响,采用X射线衍射谱(XRD)、扫描电子显微镜(SEM),研究了薄膜的晶粒尺寸、微结构、表面形貌与快速热退火条件的关联,用傅里叶变换红外光谱(FT-IR)和光致发光研究了薄膜的光学性质.结果表明,快速热退火(RTA)温度对薄膜的光学性质、晶粒尺寸和薄膜的结构形态均有较大的影响。

英文摘要:

By using SnCl2 2H2O as main materials and ethanol as solvent, nano-SnO2 thin films were prepared by sol-gel technique with rapid thermal annealing (RTA). The effect of rapid thermal annealing(RTA) on property of nano-SnO2thin film was explored. The size of grains, the microstructure, the morphology and the optical properties of nano-SnO2 thin films were characterized by XRD, SEM, PL and FT-IR. The results indicate that the optical property and the grain-size, the microstructure, and the morphology of the samples change evidently with different temperature of RTA.

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期刊信息
  • 《红外与毫米波学报》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国科学院上海技术物理研究所 中国光学学会
  • 主编:褚君浩
  • 地址:上海市玉田路500号
  • 邮编:200083
  • 邮箱:jimw@mail.sitp.ac.cn
  • 电话:021-25051553
  • 国际标准刊号:ISSN:1001-9014
  • 国内统一刊号:ISSN:31-1577/TN
  • 邮发代号:4-335
  • 获奖情况:
  • 1992、1996年获全国优秀学术期刊一等奖,1999年首届国家期刊奖
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,美国科学引文索引(扩展库),日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),瑞典开放获取期刊指南,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:8778