位置：成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
Emulation and Analysis on the ESD Sensitive Port of High-Frequency Low-Power Silicon Dynatrons
  • ISSN号：1022-6680
  • 期刊名称：Applied Mechanics and Materials (AMM)
  • 时间：0
  • 页码：346-349
  • 语言：英文
  • 相关项目：静电放电作用下微电子器件潜在性失效的检测方法研究
作者： Jie Yang|Youzhi Hu|Zhancheng Wu|
同期刊论文项目
静电放电作用下微电子器件潜在性失效的检测方法研究
期刊论文 12 会议论文 2
同项目期刊论文
基于加速寿命试验的晶体管静电放电潜在性失效的研究
静电放电对高频小功率硅晶体管的双重作用
MOS器件静电放电潜在性失效概述
电晕放电辐射场实验研究
影响空气式静电放电特性的相关因素分析
Understanding the failure mechanisms of microwave bipolar transistors caused by electrostatic discharge