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Low Specific Contact Resistivity to n-Ge and Well-Behaved Ge n(+)/p Diode Achieved by Implantation a
  • ISSN号:1882-0778
  • 期刊名称:Applied Physics Express
  • 时间:2013.10
  • 页码:-
  • 相关项目:金属与锗接触界面微结构改性及势垒高度调控机理研究
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