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大电容负载下的高速、低功耗动态摆率增强电路研究
  • ISSN号:1000-7180
  • 期刊名称:微电子学与计算机
  • 时间:2012.12
  • 页码:75-79
  • 分类:TN432[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]中国科学院电子学研究所,北京100190, [2]中国科学院研究生院,北京100049
  • 相关基金:国家自然科学基金项目(61106025)
  • 相关项目:微惯性传感器的时控模拟力反馈闭环检测方法研究
中文摘要:

本文提出了一种针对大负载电容的高速、低功耗动态摆率增强电路设计方法.电路通过直接监测主运算放大器输入端的差分电平变化,实现对主放大器的动态电流补偿,较大幅度地提高了摆率增强效果.通过改变核心MOS管尺寸,可以实现对摆率增强电路开启阈值的调节.通过引入开关控制,可以实现对摆率增强电路的及时“休眠”,提高电路的能效.动态摆率增强电路与主运算放大器为并行关系,因此适用于所有结构的运算放大器,通用性强.电路采用0.35μm商业CMOS工艺实现,有效芯片面积0.15×0.15mm2.采用5V单电源供电,测试结果表明,本电路针对400pF大负载电容,可以实现7V/μs的正向摆率及10V/μs的负向摆率,功率消耗6.25μw.该方法与传统的电路结构相比,工作效率显著提高.

英文摘要:

This paper presents a new class of universal high-speed, low-power dynamic slew-rate enhancement (SRE) circuit for heavy capacitive load. The circuit is directly driven by the transient of input signals, which monitor the slewing condition of the main op-amp. Accordingly, the slewing performance is dynamically boosted. The proposed circuit parallels the main op-amp, thus can be used in all types of op-amps. Power consumption is greatly saved by driving the SRE circuit into sleeping state when slewing boosting is completed. The circuit is designed and fabricated in 0. 35μm commercial process, occupying 0. 15 × 0. 15 mm2 chip area. The circuit operates with a single 5 V supply. The experimental results show that 7 V/μs positive slew-rate and 10 V/μs negative slewrate are achievable for 400 pF load capacitance, with 6.25 /μW power dissipation. Comparing with traditional SIRE circuits, the slewing boosting efficiency is greatly improved.

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期刊信息
  • 《微电子学与计算机》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国航天科技集团公司
  • 主办单位:中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
  • 主编:李新龙
  • 地址:西安市雁塔区太白南路198号
  • 邮编:710065
  • 邮箱:mc771@163.com
  • 电话:029-82262687
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-7180
  • 国内统一刊号:ISSN:61-1123/TN
  • 邮发代号:52-16
  • 获奖情况:
  • 航天优秀期刊,陕西省优秀期刊一等奖
  • 国内外数据库收录:
  • 荷兰文摘与引文数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:17909