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Wideband Impedance Model for Coaxial Through-Silicon Vias in 3-D Integration
  • ISSN号:0018-9383
  • 期刊名称:IEEE Transactions on Electron Devices
  • 时间:2013.8
  • 页码:2498-2504
  • 相关项目:基于碳纳米管的三维集成电路硅通孔互连线的建模与仿真
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