以水合五氧化二锑(HAP)为基本合成了水合五氧化二锑-磷钼酸铵(HAP-AMP)复合无机离子交换剂,并研究了基体陈化时间对复合交换剂性能与结构的影响。通过傅里叶红外分析(FTIR)X射线衍射(X-RAY)、X射线光电子能谱分析(XPS)等方法的研究,探讨复合机理。结果表明,复合交换剂性能稳定;复合并未导致新物质产生,但AMP原子已深入HAP晶格,且界面上有N-H氢键生成。