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ZnSe光学薄膜对GaAs表面特性的影响
  • ISSN号:1672-7126
  • 期刊名称:真空科学与技术学报
  • 时间:2013.4.15
  • 页码:368-370
  • 分类:TN248.4[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室,长春130022
  • 相关基金:基金项目:同家自然科学基金项目(61107054);吉林省科技发展计划项目(2012014124)
  • 相关项目:非对称异质结构1060nm半导体激光器
中文摘要:

GaAs基半导体激光器芯片在空气中解理后,解理腔面会被空气氧化形成腔面缺陷,在腔面形成的缺陷严重影响了器件的寿命。用GaAs衬底表面模拟半导体激光器的解理腔面,研究了不同的光学薄膜对GaAs表面特性的影响。研究结果表明暴露在大气中的GaAs表面会形成Gfd203、A昆03和As205缺陷。在表面镀含氧光学膜的GaAs表面上会形成少量Ga203缺陷,不形成As203和As205缺陷,在表面镀ZnSe光学薄膜的GaAs表面没有形成嗨03缺陷,也没有形成As203和As205缺陷。在GaAs表面上蒸镀ZnSe光学薄膜能有效地抑制GaAs表面缺陷的形成,提高半导体激光器的寿命。

英文摘要:

The surfaces of cleaved GaAs were modified with different optical ZnSe films,grown by vacuum evapora- tion. The electronic structures of the GaAs surfaces, with and without ZnSe coating, were characterized with X-ray photo- electron spectroscopy. The results show that the ZnSe films significantly increases the oxidation resistance of the GaAs sur- face, and reduces the surface density of defects. For example, a large amount of defects, possiblly caused by formation of Ga203,As203,and As2Os, were observed on the GaAs wafer exposed in air; while only a very low density of Ga203-in- duced defect was found to exist on the ZnSe-coated GaAs surfaces. We suggest that the ZnSe coating may considerably im- proves the surface oxidation resistance of GaAs, and increases the reliability and life-time of the GaAs laser devices.

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  • 《真空科学与技术学报》
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  • 国际标准刊号:ISSN:1672-7126
  • 国内统一刊号:ISSN:11-5177/TB
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  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
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