位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
SF6/O2气氛下Al对反应离子刻蚀Si的增强作用机理研究
  • ISSN号:1003-8213
  • 期刊名称:《微细加工技术》
  • 时间:0
  • 分类:TN305.7[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]复旦大学,专用集成电路与系统国家重点实验室,微电子学系,上海,200433 复旦大学,专用集成电路与系统国家重点实验室,微电子学系,上海,200433 复旦大学,专用集成电路与系统国家重点实验室,微电子学系,上海,200433
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(60476032);上海市自然科学基金资助项目(05ZR14015)
中文摘要:

通过实验和统计分析方法研究了Al在SF6/O2气体干法刻蚀Si中的增强作用机理.研究表明,Al在SF6/O2刻蚀Si中具有增强作用,而且Al的增强作用基本独立,受其它刻蚀条件的影响较小.Al对Si刻蚀速率的增强作用并非都是由于衬底温度升高所致,而是Al表面形成的AlF单原子层起到了催化作用,使SF6分解出更多的F自由基,从而提高了Si的刻蚀速率.

英文摘要:

The mechanism of Al-enhanced etching of silicon by reactive ions in SF6/O2 environment was studied by experiment and statistical analysis. The results indicate that the Al-enhanced etching of silicon in SF6/O2 environment is little affected by other etching conditions. Simultaneously, the results also indicate that the enhancement effect of Al on etching rate of silicon does not result from the rise of the substrate temperature, but it mainly results from catalytic action of an AlF monolayer formed by Al, which A1F promotes decomposition of SF6 to produce more F radicals.

同期刊论文项目
同项目期刊论文
期刊信息
  • 《微细加工技术》
  • 主管单位:信息产业部
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第48研究所
  • 主编:伍三忠
  • 地址:长沙市第96号信箱301分箱(长沙黑石铺)
  • 邮编:410111
  • 邮箱:
  • 电话:0731-2891478
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-8213
  • 国内统一刊号:ISSN:43-1140/TN
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 中文核心期刊,国家一级检索刊物用刊
  • 国内外数据库收录:
  • 荷兰文摘与引文数据库
  • 被引量:1695