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Analysis of quality-caused re-entrance electrical test system in semiconductor manufacturing by Mark
  • ISSN号：0020-7543
  • 期刊名称：International Journal of Production Research
  • 时间：2012
  • 页码：3486-3497
  • 相关项目：考虑顾客行为特性的排队系统建模与分析
作者： Li N., Jiang Z.,Liu G.,Zhang Z.|
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