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斜入射下电离层闪烁对GEO SAR成像影响分析
  • ISSN号:1003-0530
  • 期刊名称:《信号处理》
  • 时间:0
  • 分类:TN95[电子电信—信号与信息处理;电子电信—信息与通信工程]
  • 作者机构:[1]北京理工大学信息与电子学院,北京100081
  • 相关基金:国家自然科学基金资助(61225005,61120106004)
中文摘要:

本文基于多相位屏理论,研究了电离层闪烁对GEO SAR成像的影响。首先针对电离层各向异性的特点,修正了各向异性电子密度起伏的功率谱,并重新推导了斜入射条件下随机介质中的电磁波传播方程,改进了传统的基于垂直入射和各向同性电离层条件下的多相屏仿真方法,然后结合典型GEO SAR参数,分析了电离层闪烁对GEO SAR成像的影响。最后,通过Monte Carlo仿真,给出了不同电离层电子密度起伏条件下GEO SAR进行合成孔径处理的最优积累时间。分析结果表明,相同GEO SAR系统配置下,电离层闪烁的起伏越大,合成时间越长,GEO SAR成像质量越差,甚至会出现无法聚焦的情况。

英文摘要:

The paper studies ionospheric scintillation impacts on GEO SAR focusing based on multiple phase screen (MPS)simulations.The power spectrum of electron irregularities is modified according to the anisotropic ionosphere.In the case of the oblique incidence,the electromagnetic wave equations in random medium are derived,and then the MPS simulations are realized.After the simulation of GEO SAR imaging,the effects of the random fluctuations are analyzed.Fi-nally,the optimized integration time under different scintillation conditions are proposed through Monte Carlo simulations. The paper concludes that the greater ionospheric fluctuations and longer integration time will lead to more serious deteriora-tion in the same GEO SAR configuration;and even not focus at all for the worst case.

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期刊信息
  • 《信号处理》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学技术协会
  • 主办单位:中国电子学会
  • 主编:谢维信
  • 地址:北京鼓楼西大街41号
  • 邮编:100009
  • 邮箱:xhclfh@sohu.com
  • 电话:010-64010656
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-0530
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2406/TN
  • 邮发代号:80-531
  • 获奖情况:
  • 国家一级科技期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 美国剑桥科学文摘,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版)
  • 被引量:10219